光谱学测量的基础是测量光辐射与波长的对应关系。一般来说，光谱学测量的直接结果是由很多个离散的点构成曲线，每个点的横坐标（X轴）是波长，纵坐标（Y轴）是在这个波长处的强度。因此，一个光谱仪的性能，可以粗略地分为下面几个大类：

1. 波长范围（在X轴上的可以测量的范围）； 

2. 波长分辨率（在X轴上可以分辨到什么程度的信号变化）；

3. 噪声等效功率和动态范围（在Y轴上可以测量的范围）； 

4. 灵敏度与信噪比（在Y轴上可以分辨到什么程度的信号变化）；

5. 杂散光与稳定性（信号的测量是否可靠？是否可重现）； 

6. 采样速度和时序精度（一秒钟可以采集多少个完整的光谱？采集光谱的时刻是否精确？）

如果用户对这些性能指标有任何问题，请咨询Avantes公司的产品工程师。

1. 波长范围

波长范围是光谱仪所能测量的波长区间。最常见的光纤光谱仪的波长范围是200-1100nm，也就是可以探测紫外光、可见光和短波近红外光，可以扩展至200-2500nm，覆盖整个紫外-可见-近红外波段。光栅及探测器的类型会影响波长范围。一般来说，宽的波长范围意味着低的光谱分辨率，所以用户需要在波长范围和光谱分辨率两个参数间做权衡。如果同时需要宽的波长范围和高的波长分辨率，则需要组合使用多个光谱仪通道 （多通道光谱仪）。

2. 光谱分辨率

      顾名思义，光谱分辨率描述了光谱仪能够分辨波长的能力，最常用的光谱仪的波长分辨率大约为1nm（FWHM值），即可以区分间隔1nm的两条谱线。Avantes公司可以提供的最高光谱分辨率为0.04nm。光谱分辨率与光谱采样间隔（数据在x坐标上的间隔）是两个不同概念。一般来说，高的光谱分辨率意味着窄的波长范围  ，所以用户需要在波长范围和光谱分辨率两个参数间做权衡。如果同时需要宽的波长范围和高的光谱分辨率，则需要组合使用多个光谱仪通道（多通道光谱仪）。

3. 噪声等效功率和动态范围 

      当信号的强度值与噪声的强度值相当时，从噪声中分辨信号就会非常困难。一般用与噪声相当的信号的值（光谱辐照度或光谱辐亮度）来表征能一个光谱仪所能够测量的最弱的光强(Y轴的最小值)。噪声等效功率越小，光谱仪就可以测量更弱的信号。狭缝的宽度、光栅的类型、探测器的类型等参数都会影响噪声等效功率。因为这些参数也会影响波长范围和波长分辨率，用户需要在这些指标间做出取舍。对探测器制冷（Avantes公司的制冷型光谱仪）有助于减小探测器的热噪声，提高探测器检测弱光的能力。 

      动态范围描述一个光谱仪所能够测量到的最强的信号与最弱的信号的比值。最强的信号为光谱仪在信号不饱和情况下，测量到的最大值；最弱的信号用上述的噪声等效功率衡量。动态范围主要受制于探测器。动态范围是影响测量方便性的一个比较关键的指标。目前，光纤光谱仪都是通过调整积分时间的方式等效地扩大动态范围，因此，动态范围一般不会对用户的测量带来困扰。 

4. 灵敏度与信噪比(S/N)

      灵敏度描述了光谱仪把光信号转换为电信号的能力，高的灵敏度有助于减小电路自身的噪声对结果的影响。狭缝的宽度、光栅的类型、探测器的类型以及电路板的性能都会影响灵敏度。衍射效率高的光栅和量子效率高的探测器都有利于提高光谱仪的灵敏度。人为地调高前置放大电路的放大倍数（也称增益）也会提高名义上的灵敏度，但同时也放大了噪声的影响，并不一定有助于实际的测量。宽的狭缝会改善灵敏度，但也会降低分辨率，因此，需要用户综合考虑和权衡。

光谱仪的信噪比定义为：光谱仪在强光照射下，接近饱和时的信号的平均值与信号偏离平均值的抖动（以标准偏差横向）的比。需要注意的是，因为定义中没有对光源做任何限制，使用这个定义所测量到的信噪比并不能等同于用户在实际实验中所能实现的信噪比。光谱仪的信噪比主要受制于探测器。此外，通过增加测量的平均次数，也可以提高信噪比，它们之间是开方的关系，如平均100次，信噪比提高10倍。

5. 干扰与稳定性 

      实际光谱仪与理想光谱仪的重要区别之一是其内部存在杂散光等干扰。杂散光会影响信号的准确性，并对测量弱信号带来麻烦。超低杂散光平台（ULS）能够降低光路中的杂散光3-5倍。

      光谱仪的光路和探测器都不可避免地随着环境而变化，例如，环境温度的变化会导致光谱仪波长（X轴）的漂移。对光路和探测器做特殊处理能够增强光谱仪的长期稳定性。然而，这些特殊处理会增加光谱仪的硬件成本。

6. 采样速度和时序精度 

      Avantes公司的标准光谱仪可以在一秒钟内采集约900幅完整的光谱。当需要研究在更短时间内的光谱变化时，更快速的光谱仪可以在一秒钟内采集高达8000幅光谱。然而，这些光谱仪往往在光谱分辨率等指标上不能与标准光谱仪媲美，用户也需综合考虑各项指标。

      光谱仪必须具备好的时序性能方能捕捉到很短的脉冲信号。不同类型的光谱仪的时序精度差别很大，性能好的可以到纳秒量级的时间精度，而性能差的只能到毫秒量级的时间精度。

1、光谱分类及原子光谱分析方法有哪些？

 
　　光谱按强度随波长或频率的分布轮廓，可分为线状光谱、带状光谱和连续光谱；按能量传递方式可分为吸收光谱、发射光谱、荧光光谱和拉曼光谱；按电磁辐射的本质，光谱可分为：原子光谱、分子光谱、X射线能谱、γ射线能谱等。电磁波谱根据能量的高低排列由短波段的γ射线、X射线到紫外光、可见光、红外光再到长波段的微波和射频波，如表1所示的光谱类型。
 
 
表1 电磁波谱与相关的光谱类型
波长范围 电磁波区域 光谱分析类型
＜0.005nm γ射线区 （穆斯堡尔谱）
0.005~10nm X射线区 （X射线荧光光谱）
10~200nm 真空紫外区 原子光谱
200~400nm 近紫外区
400~800nm 可见光区
0.8~2.5μm 近红外光区 分子光谱
2.5~50μm 中红外光区
50~1000μm 远红外光区
1~300mm 微波区
＞300mm 射频区 （核磁共振波谱）
 
　　原子是由原子核和核外电子组成的，核外电子处在不同的轨道上即不同的能级上，能量变化是量子化的。当最外层电子产生跃迁时，所发射或吸收的光谱即为原子光谱，原子光谱属于线状光谱，是元素的固有特征。
 
　　原子光谱的分析技术包括原子发射光谱（AES）、原子吸收光谱（AAS）和原子荧光光谱（AFS）及X射线荧光光谱（XRF）分析方法。
 
2、什么是AES？常见的AES仪器有哪些？
 
　　AES的全称是“Atomic Emission Spectrometry”，即原子发射光谱，其产生的原理是由原子中核外电子受到外来能量的激发，跃迁到激发态，再由高能态回到较低的能态或基态时，以辐射形式释放能量而产生的光谱。
 
　　基于AES技术的仪器有：火花/电弧源原子发射光谱仪（AES）、电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES或ICP-OES）、辉光放电原子发射光谱仪（GD-OES）等。通常AES指火花源原子发射光谱仪，也叫直读光谱仪。
 
3、光谱仪定性和定量计算原理是什么？
 
　　光谱仪是指能够将光源发射出来的具有各种波长的复色光按照波长顺序展开，并通过检测器测量不同波长光谱强度的仪器。利用光谱仪获得的元素特征波长信息可以定性判断样品中是否含有该元素；通过元素特征谱线的强度可以定量计算该元素含量，即利用一系列标样制定工作曲线，对比待测试样和工作曲线坐标上的强度，得到待测试样精确的含量。
 
4、直读光谱仪器的误差来源有哪些？
 
　　1)系统误差也叫可测误差，一般包括仪器的本身波动；样品的给定值和实际值存在一定的偏差（标准样品的元素定值方法可能和实际检测方法不一致，这样检测结果会有方法上的差异；同一种方法的检测结果也存在一定的波动）；待测样品和系列标样之间存在成分的差异，可能导致在蒸发、解离过程中的误差，如背景强度的差别和基体蒸发的差异等。
 
　　2)偶然误差是一种无规律性的误差，如试样不均匀；检测时周围的温湿度、电源电压等的变化；样品本身的成分差异等。
 
　　3)过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，可以避免。如制样不精确，样品前处理不符合要求，控样和待测试样存在制样偏差，选择了错误的分析程序等。
 
5、直读光谱仪有哪些种类？
 
　　直读光谱仪可以有不同的划分方法。
 
　　根据光栅所处的环境不同，可分为真空型和非真空型直读光谱仪，其中非真空型直读光谱仪又可分为空气型直读光谱仪（无法测定真空紫外波段的C、P、S、As等元素含量）和充惰性气体型直读光谱仪（可以测定真空紫外元素）；
 
根据仪器的结构不同，又可分为多道直读光谱仪和全谱直读光谱仪，其中前者多采用光电倍增管作为检测器，后者多采用阵列检测器（如CCD）。
 
随着CCD技术的不断发展，直读光谱仪开始朝小型化、全谱型方向发展。小型化仪器功耗小，占用空间小且易于维护；全谱直读光谱仪能够获得全波段范围内的光谱，满足多基体分析要求，谱线选择灵活，可以有效扣除光谱干扰，分析更准确，而多道直读光谱仪只能检测有限数量的光谱，很难做到这一点。